【產(chǎn)通社，7月12日訊】中國賽寶實驗室（China CEPREI Laboratory）官網(wǎng)消息，國際電子電氣工程師協(xié)會（IEEE）電子器件學會（EDS）廣州分會2014年度第二次暨第十屆研討會（Mini-colloquium）7月4日在本所舉行，參會人數(shù)40人主要來自所科技人員、華南理工大學、廣東工業(yè)大學教師和研究生。

本次研討會的主題為“薄膜晶體管（TFT）及其可靠性”，重點關(guān)注大面陣顯示器件薄膜晶體管的結(jié)構(gòu)、工藝及可靠性動態(tài)。會議邀請了美國德州農(nóng)工大學（TAMU）的Yue Kuo（郭育）教授、電子五所劉遠博士開展技術(shù)報告，交流最新的科研成果。

郭育教授的報告題目為“大面陣TFT量產(chǎn)技術(shù)——現(xiàn)狀及未來”，他是IEEE、ECS等國際學會的Fellow、獲過電化學學會的電子和光子學獎、德州農(nóng)工大學的杰出研究和創(chuàng)新獎，10項IBM技術(shù)獎等榮譽，是TFT研究的先驅(qū)和領(lǐng)袖人物。李教授的報告深入淺出地論述了TFT的研究歷程、材料、物理和工藝，發(fā)展動態(tài)及其應用領(lǐng)域。這對我們了解先進的顯示器件有很好的幫助作用。

劉遠博士的報告題目為“銦鋅氧化物薄膜晶體管（IZO TFT）的低頻噪聲及其可靠性應用”，他聚焦于IZO TFT的靜電、輻照以及噪聲測試表征等成果。他已在頂級期刊IEEE Electron Device Letters上發(fā)表論文多篇，系統(tǒng)里研究了TFT的失效物理機制。

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