具有復雜多端口RF架構的無線消費類電子設備的激增已促使工程師在他們晶圓級RF器件上進行更困難、更復雜的RF測量。為簡化這一流程，Cascade Microtech已擴展了其廣受歡迎的WinCal校準軟件的功能，包含了將提供更快速、更精確的晶圓級RF 測量的關鍵功能。
    晶圓測試市場中獨一無二的WinCal XE將高級校準功能與RF 高精度增強功能進行了完美結合。通過可將操作員錯誤降至最低且功能強大的新型測量支持工具及指導系統(tǒng)，WinCal XE可實現(xiàn)精確、可靠的RF測量，而解決了當今復雜半導體設計中存在的這一真正問題。

·WinCal XE在市場上首要的校準軟件套件中增添了新功能
    XE版本的主要新功能包括：用于多端口測量的混合校準——最多可對四個端口自動進行多端口混合校準；用于實驗室測量驗證及數(shù)據(jù)分析的本地數(shù)據(jù)處理——與其它校準軟件不同，現(xiàn)在您能夠獲得高級本地數(shù)據(jù)分析功能，通過該功能可在數(shù)據(jù)導出前及早檢測出可疑數(shù)據(jù)；器件特性描述工具——眾多支持器件特性描述的強大測量工具可供選擇。

·可實現(xiàn)四端口校準的獨特混合校準功能
    越來越常見的RF 測量挑戰(zhàn)的主要特點是需要四個測量端口的差動架構。目前市場上提供的高級兩端口校準方法能夠高度容忍晶圓探測中經(jīng)常遇到的探針放置不確定性，但迄今為止尚未提供可實現(xiàn)四端口測量的高級校準方法。更復雜的是，四端口系統(tǒng)設置與校準所需的步驟遠多于兩端口系統(tǒng)校準，因此出錯的機率會更高。
    WinCal XE率先提供了獨一無二的新型高級混合校準算法。這種混合校準確保了可實現(xiàn)四端口差動測量的高精度“探測容忍”校準。通過提供簡潔明了的多端口設置指南、多端口校準標準與向量網(wǎng)絡分析儀(VNA)端口管理及四端口自動校準與驗證。

·WinCal XE還簡化了四端口測量。
    WinCal XE提供了其它任何商業(yè)產(chǎn)品中所沒有的以下高級校準功能：eLRRM cal，可提高例行校準的精度；混合四端口校準，包括可測量四端口精度的SOLT-eLRRM及SOLT-SOLR；多線路TRL，可將您的首選校準方法與NIST形式的參考校準進行比較。

·高級本地數(shù)據(jù)分析
    強大的新型工具可使用戶將測量的s 參數(shù)轉換成適用于器件的格式。用戶能夠以他們想要的任何格式查看數(shù)據(jù)，無需進行耗時的導出并轉換結果的過程。這可使用戶輕松看到其它顯示格式所無法立即顯示的效果或異常情況，并可在數(shù)據(jù)導出前快速驗證系統(tǒng)設置及校準。該系統(tǒng)還可實現(xiàn)輕松的顯示模塊創(chuàng)建及共享，以及定制庫的開發(fā)。憑借WinCal XE的高級數(shù)據(jù)處理，工程師無需離開實驗室便可立即進行本地數(shù)據(jù)分析及故障排除。

·器件特性描述工具
    WinCal XE提供了支持器件特性描述的各種與測量相關的工具。這些工具包括示例報告以及顯示如何應用可用函數(shù)來滿足需求的顯示模塊。用戶可修改所含的函數(shù)，以構建包含最常用函數(shù)的函數(shù)庫。該系統(tǒng)還具有許多基本函數(shù)。錯誤集管理器還提供了錯誤集增加及錯誤集比較工具，從而在管理數(shù)據(jù)質量方面提供了極高的靈活性。

·價格及供貨情況
    Cascade Microtech WinCal XE校準與RF測量增強軟件的供貨周期為接到訂單后3周。有關更多信息，請與您的Cascade Microtech銷售代表聯(lián)系，電子郵件為：sales@cmicro.com。