【產(chǎn)通社，6月30日訊】Test Devices公司消息，其新推出的光學(xué)應(yīng)變測(cè)量服務(wù)，將其測(cè)量技術(shù)應(yīng)用到高速旋轉(zhuǎn)部件上。Test Devices的客戶現(xiàn)在可以在旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)期間捕獲整個(gè)部件的應(yīng)變數(shù)據(jù)。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量服務(wù)可以同時(shí)測(cè)量和記錄成千上萬(wàn)個(gè)位置的表面應(yīng)變。所采集的數(shù)據(jù)可以作為獨(dú)立的資源，或者為傳統(tǒng)測(cè)量提供補(bǔ)充。 

Test Devices董事長(zhǎng)兼所有人H. Eric Sonnichsen表示：“光學(xué)應(yīng)變測(cè)量在旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)中的新應(yīng)用得益于計(jì)算能力和圖像分析技術(shù)所取得的進(jìn)展。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量過(guò)去局限于靜態(tài)部件，然而現(xiàn)在我們可以應(yīng)用它來(lái)獲得壓縮機(jī)和渦輪機(jī)轉(zhuǎn)子等高速部件的非接觸式全應(yīng)變場(chǎng)圖像。Test Devices正不斷做出改進(jìn)，旨在使光學(xué)應(yīng)變測(cè)量成為經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的行業(yè)解決方案并廣泛應(yīng)用于一系列高速試驗(yàn)和生產(chǎn)應(yīng)用�！�
 

產(chǎn)品特點(diǎn)


光學(xué)應(yīng)變測(cè)量獲得的高價(jià)值數(shù)據(jù)非常適合于評(píng)估渦輪機(jī)葉片和葉輪等小型或復(fù)雜零部件的特征。作為一種非接觸式技術(shù)，光學(xué)應(yīng)變測(cè)量無(wú)需采用像傳統(tǒng)試驗(yàn)中連接應(yīng)變計(jì)和引線那樣昂貴、耗時(shí)的工藝。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量過(guò)程中獲得的數(shù)據(jù)受到影響的可能性更低，因?yàn)椴淮嬖趹?yīng)變計(jì)分離因素。

該新技術(shù)具有更廣泛的適用性。只要提供檢視端口，即可將光學(xué)應(yīng)變測(cè)量設(shè)備安裝于遠(yuǎn)離待測(cè)物體的位置或者測(cè)試室之外。這樣可以在極端條件下在測(cè)試期間進(jìn)行光學(xué)應(yīng)變測(cè)量，包括傳統(tǒng)測(cè)試中可能損壞應(yīng)變計(jì)的高溫和腐蝕性環(huán)境。 

光學(xué)應(yīng)變測(cè)量可減少傳統(tǒng)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)中不可避免的結(jié)果猜測(cè)。利用光學(xué)系統(tǒng)生成的應(yīng)變圖便于更豐富、更全面地了解零部件的任何變形。

 
供貨與報(bào)價(jià)


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