【產(chǎn)通社，5月1日訊】上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司（Sino IC Technology Co.,Ltd.；NEEQ股票代碼：430139）2017年年度報告顯示，其2017年度主營業(yè)務(wù)收入1.26億元，同比增長3.54%，稅后凈利3,372.20萬元，同比減少43.09%。

報告期內(nèi)，公司根據(jù)市場發(fā)展需要，圍繞著12英寸測試平臺的產(chǎn)業(yè)升級，繼續(xù)重金購置市場所需的通信SoC、存儲器、汽車電子等各類先進(jìn)測試設(shè)備，不斷優(yōu)化五級系統(tǒng)四大平臺有機(jī)交互運(yùn)行，持續(xù)提升大數(shù)據(jù)、云計算構(gòu)架（信息化、智能化、云端化）的“芯片測試云”信息服務(wù)體系。公司積極根據(jù)集成電路行業(yè)發(fā)展情況，今年新建成的先進(jìn)集成電路測試廠房投入運(yùn)行，公司測試產(chǎn)能得到了大幅提升，活躍客戶數(shù)量增長較快。

報告期內(nèi)，公司技術(shù)研發(fā)能力和平臺實力不斷提升，測試技術(shù)領(lǐng)域顯著擴(kuò)大，為市場開拓夯實了基礎(chǔ)。前沿技術(shù)方面，晶圓級射頻測試邁進(jìn)一大步，完成面向5G應(yīng)用的超高速毫米波芯片測試技術(shù)研究，量產(chǎn)測試多款北斗導(dǎo)航核心芯片；與行業(yè)龍頭企業(yè)合作，開展14nm FinFET芯片快速測試研究和相關(guān)IP驗證工作；與國內(nèi)汽車電子芯片設(shè)計企業(yè)合作，成功實現(xiàn)多款汽車電子芯片晶圓級測試和成品測試；在晶圓級三溫測試基礎(chǔ)上，實現(xiàn)成品級三溫測試。其他科研領(lǐng)域涉及千萬門級FPGA、CIS高清圖像傳感器、WAT測試分析、28納米射頻CMOS特色工藝、智能測試工程等諸多前瞻性領(lǐng)域，科研項目質(zhì)量和科研機(jī)時較上年同期均有大幅增加，公司全年申請發(fā)明專利20項。截至報告期末已經(jīng)申請專利106項，取得軟件著作權(quán)149項。

查詢進(jìn)一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.sinoictest.com.cn。（robin, 張底剪報）    （完）