【產(chǎn)通社，5月10日訊】國科微電子有限公司（Goke Microelectronics；股票代碼：300672）官網(wǎng)消息，其自主研發(fā)的NANDXtra可靠性引擎推出第三代版本——NANDXtra Gen3，極大地提升閃存顆粒的可靠性，并延長使用壽命3~5倍，標(biāo)志著國科微在固態(tài)硬盤控制器自主研發(fā)道路上取得了又一重大技術(shù)突破。

固態(tài)硬盤（Solid State Disk，SSD）從誕生到現(xiàn)在，歷經(jīng)SLC、MLC到TLC的閃存顆粒換代。如今隨著QLC顆粒的逐漸普及，數(shù)據(jù)存儲密度獲得再次提升，成本也隨之降低，QLC顆粒受到越來越多固態(tài)硬盤企業(yè)的青睞。不過，由于單位電荷密度增加，顆粒變得更加不穩(wěn)定，這就對控制器芯片企業(yè)提出了更高的要求。如何在顆粒持續(xù)更新?lián)Q代的前提下，兼顧讀寫性能與用戶數(shù)據(jù)的可靠性，成為擺在控制器芯片企業(yè)面前的一個重要課題。


產(chǎn)品特點


作為國內(nèi)領(lǐng)先的自主控制器芯片及固態(tài)硬盤解決方案企業(yè)，國科微始終將用戶數(shù)據(jù)的可靠性擺在首位，獨創(chuàng)了NANDXtra可靠性引擎。經(jīng)過7年時間的演進，NANDXtra可靠性引擎迭代至第三代，對用戶數(shù)據(jù)提供全方位的可靠性保障。

全新的NANDXtra Gen3可靠性引擎采用國科微專利技術(shù)，在數(shù)據(jù)通路上整合了二級磨損均衡策略、三級RAID引擎（Redundant Arrays of Independent Disks，磁盤陣列）以及4K LDPC（Low-density Parity-check，低密度奇偶校驗）糾錯算法，在不影響性能的前提下，大大提升了數(shù)據(jù)可靠性。 

二級磨損均衡策略采用國科微專利技術(shù)，對閃存顆粒塊進行單獨管理，根據(jù)磨損（PE）狀況進行動態(tài)塊權(quán)重排序，分為兩級調(diào)整，確保寫入數(shù)據(jù)的全局均衡，杜絕出現(xiàn)區(qū)域塊失效問題，從源頭延長閃存顆粒使用壽命；RAID引擎采用國科微專利技術(shù)三級RAID引擎，僅用占比不到5%的存儲空間，對閃存顆粒進行Page、Die、CE級別的冗余保護，全面杜絕單點故障；LDPC引擎引入基于國科微全新動態(tài)調(diào)整專利技術(shù)的4K LDPC引擎，在糾錯能力達到業(yè)界一流水平的前提下，實現(xiàn)整個IP面積和功耗的全面領(lǐng)先。

測試結(jié)果顯示，在NANDXtra Gen3可靠性引擎的加持下，閃存顆粒平均使用壽命整體提升3到5倍，為采用QLC顆粒的SSD企業(yè)以及搭載使用QLC顆粒SSD的整機企業(yè)免去后顧之憂。


供貨與報價


目前，搭載國科微NANDXtra Gen3可靠性引擎的GK2302V200系列控制器芯片即將正式量產(chǎn)。同時，GK2302V200系列已完成與長江存儲128層TLC和QLC閃存顆粒的全面適配，并且，GK2302V200工程樣品已通過有關(guān)權(quán)威測試機構(gòu)的測試驗證，結(jié)果表明其可靠性、穩(wěn)定性、性能均可與國際同類產(chǎn)品相媲美。

查詢進一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.gokemicro.com。（Lisa WU, 365PR Newswire）    （完）