【產(chǎn)通社，1月23日訊】北京理工大學（Beijing Institute of Technology, BIT）官網(wǎng)消息，中國儀器儀表學會2020年科技獎勵大會暨九屆三次理事（擴大）會議日前在浙江省杭州市召開，本次大會上頒發(fā)了2020年中國儀器儀表學會科學技術(shù)獎，其光電學院郝群教授團隊申報的“虛-實融合瞬態(tài)干涉復雜表面精密測量技術(shù)及應用”項目榮獲技術(shù)發(fā)明一等獎。 

該項目歷經(jīng)15年的產(chǎn)學研用聯(lián)合攻關(guān)，在國際上首次提出了虛-實融合部分補償數(shù)字莫爾干涉測量新原理，發(fā)明了調(diào)制生成復雜面形基準波面的部分補償方法、非線性兩步載波數(shù)字莫爾移相相位提取方法和基于像差最佳部分補償?shù)拿嫘握`差和面型參數(shù)誤差精密測量方法，與國外同類先進產(chǎn)品相比，面形誤差測量精度提高1.5倍，填補了復雜表面“形參同測”干涉測量儀器的國際空白。該成果增強了我國高精度光學制造水平，取得了顯著的經(jīng)濟效益和重大社會效益。

查詢進一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.bit.edu.cn。（Robin Zhang，張底剪報）    （完）