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 【產(chǎn)通社,4月2日訊】蘇州蘇試試驗(yàn)儀器股份有限公司(Suzhou SUSHI test instrument;股票代碼:300416)消息,其控股子公司蘇試宜特(上海)檢測技術(shù)股份有限公司近日取得了國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的發(fā)明專利證書,《運(yùn)用紅外熱成像顯微鏡偵測芯片失效的除錯(cuò)方法》專利號ZL201810357317.9,《一種驅(qū)動IC取芯片的方法》專利號ZL202010071391.1。 查詢進(jìn)一步信息,請?jiān)L問官方網(wǎng)站 http://www.chinasti.com。(Donna Zhang,張底剪報(bào)) (完)
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