【產(chǎn)通社，6月18日訊】安世半導(dǎo)體（Nexperia）官網(wǎng)消息，其推出與功率MOSFET配套使用的新一代交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)，大幅提升了對(duì)半導(dǎo)體工程師的設(shè)計(jì)支持標(biāo)準(zhǔn)。通過操作數(shù)據(jù)手冊(cè)中的交互式滑塊，用戶可以手動(dòng)調(diào)整其電路應(yīng)用的電壓、電流、溫度和其他條件，并觀察器件的工作點(diǎn)如何動(dòng)態(tài)響應(yīng)這些變化。 

這些交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)使用Nexperia的高級(jí)電熱模型計(jì)算器件的工作點(diǎn)，可有效地為電路仿真器提供一種圖形用戶界面。此外，工程師借助這些交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)可以即時(shí)查看柵極電壓、漏極電流、RDS(on)和溫度等參數(shù)之間的相互作用。然后將以表格或圖形的形式動(dòng)態(tài)顯示這些參數(shù)對(duì)器件行為的綜合影響。因此，Nexperia的交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)可以減少工程師執(zhí)行手動(dòng)計(jì)算或設(shè)置和調(diào)試電路仿真所需的時(shí)間，從而顯著提高生產(chǎn)力。

當(dāng)設(shè)計(jì)工程師想要為某個(gè)應(yīng)用選擇器件時(shí)，他們首先會(huì)想到查閱數(shù)據(jù)手冊(cè)。然而，數(shù)據(jù)手冊(cè)中包含了大量信息，包括數(shù)十個(gè)器件參數(shù)的最小、最大和典型規(guī)格，通常難以確定這些參數(shù)之間的關(guān)系。因此，工程師必須進(jìn)行耗時(shí)的手動(dòng)計(jì)算或使用制造商提供的模型（假設(shè)這些模型可用）建立電路仿真器，以全面了解器件行為。即便如此，許多制造商的仿真模型也不會(huì)顯示溫度變化對(duì)器件行為的影響。在Nexperia推出的新型交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)中，通過簡(jiǎn)單易用的數(shù)據(jù)手冊(cè)滑塊，工程師可以手動(dòng)更改參數(shù)來顯示不同參數(shù)的實(shí)時(shí)交互。

Nexperia功率MOSFET業(yè)務(wù)部高級(jí)總監(jiān)Chris Boyce表示：“我們新推出的交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)適用范圍非常廣，無論是希望了解器件高溫性能的設(shè)計(jì)工程師，還是想要在不同的測(cè)試條件下對(duì)器件進(jìn)行比較的元件工程師，都能幫助他們更輕松地完成工作�！�

這些數(shù)據(jù)手冊(cè)的技術(shù)原理與Nexperia獲得巨大成功的精密電熱MOSFET模型中使用的技術(shù)相同，可以充分展示分立MOSFET的行為如何隨溫度變化。新型交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)除了具備傳統(tǒng)靜態(tài)數(shù)據(jù)手冊(cè)功能，還可在任何標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)頁(yè)瀏覽器中運(yùn)行，不需要額外的器件仿真軟件。 

目前，交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)初始版本正在申請(qǐng)專利，Nexperia將聯(lián)系全球客戶工程師社區(qū)，評(píng)估交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)的實(shí)時(shí)使用情況，以擴(kuò)展未來版本的功能。

目前已有200多個(gè)交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)，涵蓋了Nexperia最新一代汽車和工業(yè)功率MOSFET中的器件。Nexperia計(jì)劃將陸續(xù)推出完整的分立MOSFET產(chǎn)品組合和其他器件的交互式數(shù)據(jù)手冊(cè)。

查詢進(jìn)一步信息，請(qǐng)?jiān)L問官方網(wǎng)站??http://www.nexperia.com/interactive-datasheet。（張怡，產(chǎn)通發(fā)布）     （完）