【產(chǎn)通社，11月14日訊】深圳市隆利科技股份有限公司（Shenzhen Longli Technology CO.,LTD.；股票代碼：300752）消息，其近日收到由國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的《一種用于背光源標(biāo)記的打點方法》發(fā)明專利證書，授權(quán)公告號CN113289935B，專利號ZL202110484853.7，專利申請日2021年04月30日，授權(quán)公告日2023年10月17日。

《一種用于背光源標(biāo)記的打點方法》提供一種高效的背光源標(biāo)記方法，通過采用智能檢測和轉(zhuǎn)移技術(shù)，能夠快速將不良品識別并取出，再利用打點機技術(shù)在具有保護膜的不良品上實施精準(zhǔn)的壓痕標(biāo)記，實現(xiàn)了自動化、準(zhǔn)確的標(biāo)記過程，從而替代傳統(tǒng)的人工標(biāo)記方式，顯著提高了標(biāo)記效率，進而大幅度提升整個生產(chǎn)效率。

查詢進一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.blbgy.com。（Robin Zhang，產(chǎn)通數(shù)造）
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