【產(chǎn)通社，7月18日訊】安捷倫科技公司（Agilent；NYSE：A）官網(wǎng)消息，其最新版本的器件建模軟件平臺――IC-CAP 2011.04集成電路表征和分析程序?qū)C-CAP Wafer Professional自動測量解決方案與IC-CAP CMOS模型提取套件相結(jié)合，能夠顯著改善半導(dǎo)體器件的建模流程。先進的CMOS器件建模需要執(zhí)行大量測量，以分析制程趨勢，確定提取典型和邊際器件模型所需的數(shù)據(jù)。管理和分析數(shù)據(jù)，以確保為復(fù)雜的模塊提取和驗證做出正確的選擇，是一項很大的挑戰(zhàn)。這通常需要建模團隊使用多種軟件工具來轉(zhuǎn)換將數(shù)據(jù)格式，但這樣既不精確又缺乏效率。IC-CAP WaferPro幫助用戶以最有效的方式收集和管理大量數(shù)據(jù)�，F(xiàn)在，IC-CAP CMOS建模套件首次能夠與WaferPro完美結(jié)合。

Agilent EEsof EDA事業(yè)部產(chǎn)品經(jīng)理Roberto Tinti表示：“從2010版本開始，IC-CAP WaferPro憑借其性能、靈敏度、對測試儀器和系統(tǒng)的廣泛支持，以及最大程度地幫助使用實驗室設(shè)備等優(yōu)勢，已經(jīng)日益成為客戶的理想選擇。我們非常高興地將WaferPro的強大功能提供給所有Agilent CMOS提取套件用戶。這樣，我們可以幫助他們更有效地安排從測量到提取從整個流程�！�

產(chǎn)品特點

通過IC-CAP 2011.04，用戶能夠在Agilent CMOS套件環(huán)境中定義器件和測量測試，自動生成可在各種測試設(shè)備上執(zhí)行的WaferPro測試方案。通過WaferPro表征各種幾何形狀的器件后，CMOS提取模塊將自動讀取測量數(shù)據(jù)用于模型提取。由于不需要在測量和建模應(yīng)用之間進行數(shù)據(jù)傳輸或格式轉(zhuǎn)化，這極大地提高了流程效率。

除了WaferPro和CMOS套件組合，IC-CAP 2011.04還增加了對Windows 7的支持，并且改進了仿真、測量和編程環(huán)境中的幾個平臺。增強功能包括使用Verilog-A和Agilent ADS仿真器（在IC-CAP分析模塊中免費使用，無需額外的許可證）進行仿真，并支持spice網(wǎng)表中的PARAM語法格式。此外，WaferPro現(xiàn)在支持Tokyo Electron P8/P12全自動探針臺，同時B1505A直流功率分析儀驅(qū)動程序支持在多個偏置單元上進行脈沖偏置。

Agilent IC-CAP WaferPro和CMOS建模套件

W8510 IC-CAP WaferPro通過控制半自動和全自動探針臺和先進儀器（例如Agilent 4080參數(shù)測試儀），支持用戶以不同的溫度執(zhí)行自動晶圓上測量。它是進行DC-CV和射頻器件建模測量的最強大的測量套件。IC-CAP CMOS測量和提取套件提供專用的軟件環(huán)境，以提取先進CMOS器件的典型和邊際模型。它完全支持用于CMOS業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)模塊（例如BSIM3、BSIM4、PSP和HiSIM）的有效的參數(shù)提取程序。該套件能夠在提取當(dāng)前CMOS器件的復(fù)雜多樣的模型過程中，適當(dāng)?shù)仄胶庖绘I式解決方案的效率及自定義參數(shù)提取的需要。

Agilent IC-CAP軟件

Agilent IC-CAP軟件是一個器件建模程序，擁有強大的表征和分析功能，可用于當(dāng)今的半導(dǎo)體建模工藝。IC-CAP可以高效、準(zhǔn)確地提取有源器件參數(shù)和電路模型參數(shù)，執(zhí)行多項建模任務(wù)，包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、圖形分析、仿真和優(yōu)化等。半導(dǎo)體代工廠和設(shè)計公司利用它來表征晶圓工藝。

Agilent EEsof EDA軟件

Agilent EEsof EDA是業(yè)界頂尖的電子設(shè)計自動化軟件供應(yīng)商，其EDA軟件適用于微波、射頻、高頻、高速數(shù)字、射頻系統(tǒng)、電子系統(tǒng)級產(chǎn)品、電路、三維電磁場、物理設(shè)計和器件建模等應(yīng)用。

供貨與報價

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