【產(chǎn)通社，12月17日訊】美國國家儀器公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI）官網(wǎng)消息，其NI PXIe-5632 VNA可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測(cè)試要求，而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
NI射頻研究和開發(fā)副總裁Jin Bains表示，“NI在射頻和微波儀器上持續(xù)大力投入，將PXI的應(yīng)用領(lǐng)域擴(kuò)大至高端應(yīng)用。NI PXIe-5632矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功能豐富，可顯著降低網(wǎng)絡(luò)測(cè)量成本，尤其是針對(duì)那些需要高度精確、快速和小封裝測(cè)量的大批量自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用�！�
產(chǎn)品特點(diǎn)
新的PXIe VNA基于創(chuàng)新型的雙源架構(gòu)，頻率范圍為300kHz至8.5GHz，擁有獨(dú)立調(diào)整的源代碼和源接入循環(huán)，可適用于眾多不同的測(cè)量應(yīng)用。主要特點(diǎn)包括：
• 雙端口，3槽PXI Express矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻率范圍為300kHz至8.5GHz。
• 功率范圍較寬，為-30dBm到+15dBm，調(diào)節(jié)步長為0.01dB，用于測(cè)量有源設(shè)備的壓縮和S-參數(shù)。
• 帶有源接入循環(huán)的雙源架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)脈沖S參數(shù)測(cè)量和擴(kuò)展源功率范圍。
• 頻偏功能使用獨(dú)立調(diào)整的源代碼，實(shí)現(xiàn)對(duì)頻率轉(zhuǎn)換器件和熱S-參數(shù)的測(cè)量。
• 通過NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行業(yè)領(lǐng)先的編程接口，可簡(jiǎn)化編程并加快測(cè)試開發(fā)速度，同時(shí)保證射頻測(cè)量質(zhì)量。
供貨與報(bào)價(jià)
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