【產(chǎn)通社，3月9日訊】致茂電子（Chroma ATE Inc.；TWSE股票代碼：2360）官網(wǎng)消息，2019 SEMICON China（3月20-22日）期間，其將于上海新國際博覽中心（SNIEC）攤位號3171展出嶄新的半導(dǎo)體測試解決方案。

電池包檢測技術(shù)于電動汽車保養(yǎng)服務(wù)

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統(tǒng)，可提供高達(dá)2048個(gè)I/O通道、數(shù)位通道速率（data rate）最高可達(dá)1Gbps、最高512個(gè)并行測試的能力及512M Word測試資料記憶體深度，以提供最低的測試成本且滿足復(fù)雜SoC的測試應(yīng)用需求。應(yīng)用范圍包含微控制器（MCU）、數(shù)位音訊、數(shù)位電視、機(jī)頂盒、數(shù)位信號處理器（DSP）、網(wǎng)路處理器（Network Processor）、現(xiàn)場可程式邏輯門陣列（FPGA）及消費(fèi)性電子IC應(yīng)用市場等測試方案。

HDAVO（High Density Audio Video Option）高性能混和訊號解決方案，為Chroma 3680的選購模組，擁有可同時(shí)輸出的8個(gè)差動源模組（AWG）和同時(shí)接收的8個(gè)差動測量模組（DGT），且在每一個(gè)差動源模組（AWG）上能提供高達(dá)400Msps的取樣頻率和在每一個(gè)差動測量模組（DGT）上能提供高達(dá)250Msps的取樣頻率，具有高規(guī)格、低成本和多功能等優(yōu)勢，適用于標(biāo)準(zhǔn)的基頻、視訊、音訊、圖形、STB以及DTV等廣泛的混合訊號測試應(yīng)用。

搭配于3680上所開發(fā)的CRISPro軟體套件，讓使用者可以用圖形化介面（GUI）或程式語言做測試程式的開發(fā)，加上支援可同時(shí)測試（Concurrent Testing）的功能，以降低測試程式的時(shí)間，加快產(chǎn)品的量產(chǎn)速度。

經(jīng)濟(jì)且彈性高之完整ATE測試功能

Chroma 3380為一經(jīng)濟(jì)且彈性極高之ATE自動測試系統(tǒng)，最高可以提供1,280通道，速率最高可達(dá)100Mbps、并提供1024個(gè)并行測試能力。不僅具有多樣性模擬（analog）信號的儀器板卡可供選擇，更具備各種常見ATE系統(tǒng)之轉(zhuǎn)換軟件與硬件模塊，讓轉(zhuǎn)移平臺快速方便，降低整體測試成本（COT）。此外，3380可以完整整合射頻測試儀MP5806。同時(shí)，支持Direct Mount和Cable Mount的測試方案，擁有4/8 RF Port及120MHz頻寬，涵蓋6GHz范圍內(nèi)的無線測試規(guī)范，應(yīng)用范圍包含Wi-Fi/BT/GNSS/Tuner/NB-IoT/LoRa等無線通訊與IoT應(yīng)用及RF元件測試（PA/LNA/Converter等），提供RF/Digital全方位ATE（CP/FT/SLT）測試解決方案。

Chroma 33010 PXIe架構(gòu)之自動測試系統(tǒng)（ATE），具完整ATE功能，對于價(jià)格更敏感的客戶，提供符合未來PXI測試方案發(fā)展應(yīng)用之趨勢及需求，以因應(yīng)未來更小IC通道及愈趨復(fù)雜功能之趨勢，尤其在 IoT 及車用感測IC測試上，PXI/PXIe架構(gòu)在半導(dǎo)體測試無論在應(yīng)用多變和彈性上具有優(yōu)勢。應(yīng)用范圍包含微控制器、微機(jī)電（MEMS）感測器、射頻IC（RF IC）及電源IC（PMIC）等測試方案。

全溫度控制范圍，確保IC最終品質(zhì)

Chroma 3110S雙用型單測頭的Pick & Place測試分類機(jī)，支援各種不同類型封裝晶片，如BGA、μBGA、QFP系列、QFN、Flip-Chip與TSOP等，并可支援至120mm封裝尺寸. 內(nèi)建全溫度范圍控制模組（Full range Thermal Control Unit），可提供高功率主動式溫控系統(tǒng)（High Power Cooling ATC），溫度范圍-40°C至150°C±3°C選配高規(guī)格溫控器可達(dá)-55°C至175°C±3°C的溫控能力，并支援壓測力量220Kgf的特殊需求，符合各類產(chǎn)品線綜合應(yīng)用，絕對是工程驗(yàn)證和小批量量產(chǎn)的理想設(shè)備。

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