【產(chǎn)通社，9月19日訊】致茂電子（Chroma ATE Inc.；TWSE股票代碼：2360）官網(wǎng)消息，其將參展9月18-20日在臺北南港展覽館一館1F（攤位號K3080）舉行的2019 SEMICON Taiwan，展出嶄新的半導體測試解決方案。

半導體溶液納米粒子監(jiān)控系統(tǒng)SpuerSizer Series

半導體的先進制程技術(shù)持續(xù)飛速發(fā)展，在嚴苛的制程及品質(zhì)要求下，從供應(yīng)商的原物料、生產(chǎn)、儲存、分裝、運送、到客戶端的檢驗、暫存、前處理、使用端等每個環(huán)節(jié)都不容許出錯。SuperSizer Series可揪出液態(tài)化學藥品內(nèi)的殺手納米粒子，完全不受納米氣泡的干擾并大幅改善了小粒子的偵測效率，可以精準地量測3納米以上的粒子大小及數(shù)量分布。提供客戶及其供應(yīng)商24/7對于小于20納米的粒子進行即時監(jiān)控，防范晶圓納米缺陷形成于未然，增加先進制程良率。

高階數(shù)位及混合訊號的專家3680 SoC測試系統(tǒng)

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統(tǒng)，可提供高達2048個I/O通道，且數(shù)位通道速率（data rate）最高可達1Gbps、最高512個并行測試的能力及512M Word測試資料記憶體深度，以提供最低的測試成本且滿足復(fù)雜SoC的測試應(yīng)用需求。

HDAVO（High Density Audio Video Option）高性能混和訊號解決方案，為Chroma 3680的選購模組，擁有可同時輸出的8個差動源模組（AWG）和同時接收的8個差動測量模組（DGT），且在每一個差動源模組（AWG）上能提供高達400Msps的取樣頻率和在每一個差動測量模組（DGT）上能提供高達250Msps的取樣頻率，具有高規(guī)格、低成本和多功能等優(yōu)勢，適用于5G基頻、視訊、音訊、圖形、STB以及DTV等廣泛的混合訊號測試應(yīng)用。搭配于CRISPro軟體套件，讓使用者可以用圖形化介面（GUI）或程式語言做測試程式的開發(fā)，加上支援可同時測試（Concurrent Testing）的功能，以降低測試程式的時間，加快產(chǎn)品的量產(chǎn)速度。

完整軟體與硬體的PXIe架構(gòu)的測試平臺

隨著半導體技術(shù)的進步，半導體測試系統(tǒng)需要將各種功能集成到一個更小裝置中，PXI/PXIe架構(gòu)在半導體測試無論在應(yīng)用的多變和彈性上皆具優(yōu)勢。Chroma最新推出33011，33020與33021三張以PXIe架構(gòu)下的半導體測試應(yīng)用功能卡片，搭配33010數(shù)位邏輯信號產(chǎn)生卡（LPC），提供了市場非常完整的PXIe架構(gòu)之自動測試系統(tǒng)（ATE）。33011提供了半導體測試 Load Board所需要的控制資源，33020則提供了每張板卡8組的電源供應(yīng)（DPS）；33021提供兩組高達48V的電源可供選擇。Chroma的PXIe-based測試ATE系統(tǒng)，搭配Chroma CRAFT軟體組件，完整的提供從開發(fā)到量產(chǎn)與統(tǒng)計分析的半導體專業(yè)工具。

RF射頻晶片測試解決方案MP5806

Chroma半導體測試設(shè)備可完美結(jié)合ADIVIC MP5806，將測試設(shè)備擴充為俱備完整的射頻晶片測試方案，并已通過客戶量產(chǎn)驗證。MP5806可支援包含Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT、GPS/BeiDou等（IoT）通訊標準和Tuner & PA等應(yīng)用，內(nèi)含300K~6GHz全頻覆蓋之超高頻寬VSG/VSA模組，更可廣泛應(yīng)用于未來各式無線通訊標準。

半導體先進封裝光學量測系統(tǒng) 7505 Series

半導體先進封裝關(guān)鍵尺寸（CD）的量測設(shè)備，隨著元件微縮，所需量測的關(guān)鍵尺寸（CD）也越來越小。Chroma推出適合下一世代關(guān)鍵尺寸量測的7505 Series半導體先進封裝光學量測系統(tǒng)，7505 Series以白光干涉量測技術(shù)為核心，進行非破壞性的光學尺寸量測，可進行待測物之關(guān)鍵尺寸（CD）、Overlay（OVL）及Thickness等量測需求，且垂直與水準軸向掃描范圍大，適合各種自動量測之應(yīng)用，最大量測尺寸達12吋晶圓，待測物皆不需前處理即可進行非破壞且快速的表面形貌量測與分析，提供快速自動對焦演算法與大面積接圖功能，可使用腳本量測功能具備自動量測能力，同時可搭配EFEM （Equipment From End Module），進行待測物運送，此設(shè)備已通過SEMI S2認證，適用于各大半導體廠中之研發(fā)單位、FAB廠、生產(chǎn)與品管單位使用。

本次展會中展出同為使用7505 Series白光干涉技術(shù)的核心的設(shè)備7503三維光學輪廓儀，展示出強大的基本量測能力，利用掃描白光干涉技術(shù)提供多種表面參數(shù)量測功能，如斷差高度、夾角、面積、體積、粗度、起伏、薄膜厚度及平整度以滿足業(yè)界與研究單位之需求。

功率半導體元件高壓安全檢測19501-K

功率半導體元件于新能源的應(yīng)用領(lǐng)域如電動車與儲能等需較高電壓切換，以電動車馬達驅(qū)動器工作原理檢視，在正常工作時回路上會產(chǎn)生高于電池電壓的突波電壓。因此功率半導體元件應(yīng)用在此環(huán)境，必須考慮突波電壓造成的持續(xù)性局部放電之品質(zhì)議題確保長期工作可靠性。Chroma 19501-K局部放電測試器能為您把關(guān)檢測功率半導體元件在高電壓工作下是否有連續(xù)性局部放電（PD in pC）發(fā)生，確保長期工作之品質(zhì)與可靠性。

查詢進一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.chroma.com.cn。（Lisa WU, 365PR Newswire）    （完）