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| 產(chǎn)品名稱：DIP封裝集成電路老化測(cè)試座 |
| 產(chǎn)品品牌： |
| 產(chǎn)品型號(hào)： |
| 參考價(jià)格：￥0 |
| 瀏覽人數(shù)：728 |
| 發(fā)布日期：2009/7/27 16:13:18 |
| 聯(lián)系賣方：揚(yáng)州市廣陵區(qū)鴻騰電器廠 |
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| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介 |
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| DIP封裝集成電路老化測(cè)試座該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測(cè)試、篩選及可靠性試驗(yàn)作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊
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| 產(chǎn)品說(shuō)明 |
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DIP封裝集成電路老化測(cè)試座
該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測(cè)試、篩選及可靠性試驗(yàn)作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊
產(chǎn)品型號(hào)及規(guī)格；
IC-8J～I(xiàn)C-64J
主要技術(shù)指標(biāo)；
間距；2.54mm 環(huán)境溫度；-55℃—+155℃
接觸電阻；≤0.01歐 工作電壓；DC500V
單腳插入力；≤0.2Kg 彈片金層厚度；1um鎳2um金
插拔壽命；高低溫狀態(tài)下插拔壽命；2000-3000次
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| 資料下載 |
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產(chǎn)品分類