 產(chǎn)品分類 |
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| 產(chǎn)品名稱：原子力顯微鏡AFM探針 |
| 產(chǎn)品品牌：Bruker |
| 產(chǎn)品型號(hào)： |
| 參考價(jià)格：￥0 |
| 瀏覽人數(shù)：2372 |
| 發(fā)布日期：2011/1/11 12:03:05 |
| 聯(lián)系賣方：鉑悅儀器（上海）有限公司 |
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| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介 |
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| 實(shí)驗(yàn)室常用耗材，型號(hào)規(guī)格齊全，原裝原配，質(zhì)量保證
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| 產(chǎn)品說(shuō)明 |
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原子力顯微鏡AFM探針:
探針的工作模式：主要分為 掃描(接觸)模式和輕敲模式
探針的結(jié)構(gòu)：懸臂梁+針尖
探針針尖曲率半徑Tip Radius：一般為10nm到幾十nm。
制作工藝：半導(dǎo)體工藝制作
常見的探針類型：
（1）、導(dǎo)電探針（電學(xué)）：金剛石鍍層針尖，性能比較穩(wěn)定
（2）、壓痕探針：金剛石探針針尖（分為套裝和非套裝的）
（3）、氮化硅探針：接觸式 （分為普通的和銳化的）
（4）、磁性探針：應(yīng)用于MFM，通過(guò)在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備
（5）、電化學(xué)探針（STM）: 電學(xué)接觸式和電學(xué)輕敲式
（6）、FIB大長(zhǎng)徑比探針：測(cè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)，專為測(cè)量深的溝槽（深孔）以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。
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