伴隨PCB工藝技術(shù)的日新月異，新PCB的測(cè)試評(píng)價(jià)技術(shù)與手段也層出不窮，一種由高加速冷熱沖擊（HATS）+導(dǎo)通阻抗連續(xù)監(jiān)測(cè)儀組合HAST測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生，且被IPC組織明確寫進(jìn)了IPC-9151B（Printed Board Process Capability, Quality, and Relative Reliability (PCQR2) Benchmark Test Standard and Database）標(biāo)準(zhǔn)中，就其功能而言完合可以作為IST（Interconnect Stress Test System）的替代測(cè)試方法。

相比IST測(cè)試系統(tǒng)，HAST測(cè)試系統(tǒng)具有明顯的優(yōu)勢(shì)：
1）可以增加測(cè)試樣品的數(shù)量（IST測(cè)試最多只能一次測(cè)試6個(gè)樣品）；
2）測(cè)試樣品可以是標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板也可以是成品板的一部分，
3）對(duì)溫度的控制更精準(zhǔn)；
4）費(fèi)用更��；

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