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一種衡量半導(dǎo)體工藝進(jìn)步的更好方法
2022/12/7 13:37:03    
科技領(lǐng)域最著名的定律之一是摩爾定律(Moore's Law),它描述并預(yù)測了晶體管的縮小,這由一組大約兩年一次的稱為技術(shù)節(jié)點(diǎn)的時(shí)間點(diǎn)來表示。就像一些基于物理學(xué)的末日時(shí)鐘一樣,幾十年來,隨著工程師們設(shè)法定期將同一塊硅片上可以容納的晶體管數(shù)量增加一倍,節(jié)點(diǎn)數(shù)量不斷下降。

當(dāng)Gordon Moore第一次以他的名字命名這種趨勢時(shí),還沒有節(jié)點(diǎn)(node)這種東西,只有大約50個(gè)晶體管可以經(jīng)濟(jì)地集成在一個(gè)IC上。但是,經(jīng)過幾十年的努力和數(shù)千億美元的投資,看看我們已經(jīng)走了多遠(yuǎn)!如果你有幸在一部高端智能手機(jī)上閱讀這篇文章,它里面的處理器使用所謂的7納米節(jié)點(diǎn)技術(shù)制造的,這意味著在一平方毫米的硅中有大約1億個(gè)晶體管,行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者正在致力于所謂的1納米節(jié)點(diǎn)。



然后呢?



畢竟,1納米幾乎不是五個(gè)硅原子的寬度。因此,你有理由認(rèn)為,摩爾定律很快將不復(fù)存在,半導(dǎo)體制造技術(shù)的進(jìn)步不會帶來處理能力的進(jìn)一步躍升,固態(tài)器件工程是一條沒有出路的職業(yè)道路。

不過,你錯(cuò)了。半導(dǎo)體技術(shù)節(jié)點(diǎn)系統(tǒng)描繪的畫面是錯(cuò)誤的。7納米晶體管的大多數(shù)關(guān)鍵特性實(shí)際上比7納米大得多,術(shù)語和物理現(xiàn)實(shí)之間的脫節(jié)已經(jīng)持續(xù)了大約20年。當(dāng)然,這不是什么秘密,但它確實(shí)帶來了一些非常不幸的后果。

一個(gè)是對“節(jié)點(diǎn)”的持續(xù)關(guān)注掩蓋了一個(gè)事實(shí),即即使在CMOS晶體管幾何結(jié)構(gòu)不再有擠壓的情況下,半導(dǎo)體技術(shù)仍將繼續(xù)推動計(jì)算向前發(fā)展。另一個(gè)原因是,持續(xù)的以節(jié)點(diǎn)為中心的半導(dǎo)體發(fā)展觀點(diǎn)未能像過去那樣為行業(yè)指明前進(jìn)的方向。最后,令人憤怒的是,如此多的股票被投入到一個(gè)根本毫無意義的數(shù)字中。

尋找更好的方法來標(biāo)記行業(yè)的里程碑,這種努力將產(chǎn)生明顯更好的替代方案。但是,在一個(gè)競爭激烈的行業(yè)里,專家們會團(tuán)結(jié)在一個(gè)人的背后嗎?但愿如此,這樣我們就能再次擁有一種有效的方法來衡量這個(gè)世界上最大、最重要、最具活力的行業(yè)之一的進(jìn)步。

自1971年英特爾4004微處理器發(fā)布以來,MOS晶體管的線性尺寸縮小了約1000倍,單個(gè)芯片上的晶體管數(shù)量增加了約1500萬倍。用于衡量集成密度顯著進(jìn)步的指標(biāo)主要是稱為金屬半節(jié)距(metal half-pitch)和柵極長度(gate length)的尺寸。方便的是,在很長一段時(shí)間里,它們的數(shù)量差不多。

金屬半間距是芯片上從一個(gè)金屬互連開始到下一個(gè)金屬互連開始的距離的一半。在這十年之前占主導(dǎo)地位的二維或“平面”晶體管設(shè)計(jì)中,柵極長度測量晶體管源極和漏極之間的空間。在那個(gè)空間里是器件的柵極疊層,它控制著源極和漏極之間的電子流。歷史上,它是決定晶體管性能的最重要的尺寸,因?yàn)檩^短的柵極長度意味著更快的開關(guān)器件。

在柵極長度和金屬半間距大致相當(dāng)?shù)臅r(shí)代,它們開始代表芯片制造技術(shù)的定義特征,成為節(jié)點(diǎn)數(shù)。芯片上的這些功能通常每一代都會縮小30%。這樣的減少使得晶體管密度加倍,因?yàn)閷⒕匦蔚膞和y尺寸減少30%意味著面積減半。

在整個(gè)20世紀(jì)70年代和80年代,使用柵極長度和半節(jié)距作為節(jié)點(diǎn)數(shù)達(dá)到了目的,但在20世紀(jì)90年代中期,這兩個(gè)特征開始分離。為了繼續(xù)在速度和器件效率方面取得歷史性的進(jìn)步,芯片制造商比更積極地縮短柵極長度。例如,使用所謂的130納米節(jié)點(diǎn)制造的晶體管實(shí)際上有70納米的柵極。結(jié)果是,摩爾定律密度倍增路徑得到了延續(xù),但閘極長度卻不成比例地縮小了。然而很大程度上,工業(yè)界仍然堅(jiān)持舊的節(jié)點(diǎn)命名慣例。



無意義的技術(shù)節(jié)點(diǎn)



在20世紀(jì)90年代中期之前,邏輯技術(shù)節(jié)點(diǎn)與它們生產(chǎn)的CMOS晶體管的柵極長度同義。實(shí)際的門長度在一段時(shí)間內(nèi)收縮得更快,然后停止收縮。

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資料來源:斯坦福納米電子實(shí)驗(yàn)室,維基百科,IEEE 2020年設(shè)備和系統(tǒng)國際路線圖


GMT方法


光刻技術(shù)的局限性:最先進(jìn)的光刻技術(shù)——極紫外光刻,依賴于波長為13.5納米的光。這意味著芯片功能將很快停止萎縮。芯片制造商將不得不轉(zhuǎn)向單片3D集成,增加器件層,以保持硅CMOS的密度增加。GMT方法通過說明兩個(gè)最關(guān)鍵特征的尺寸、接觸柵極間距和金屬間距以及層數(shù)來跟蹤這一點(diǎn)。

光刻技術(shù)的局限性:最先進(jìn)的光刻技術(shù)——極紫外光刻,依賴于波長為13.5納米的光。這意味著芯片功能將很快停止萎縮。芯片制造商將不得不轉(zhuǎn)向單片3D集成,增加器件層,以保持硅CMOS的密度增加。GMT方法通過說明兩個(gè)最關(guān)鍵特征的尺寸、接觸柵極間距和金屬間距以及層數(shù)來跟蹤這一點(diǎn)。

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來源:斯坦福納米電子實(shí)驗(yàn)室,IEEE 2020年器件和系統(tǒng)國際路線圖

21世紀(jì)初的發(fā)展使事情進(jìn)一步分開,因?yàn)樘幚砥饔龅搅斯牡南拗啤9こ處焸冋业搅瞬粩喔倪M(jìn)器件的方法。例如,將晶體管的部分硅置于應(yīng)變下,可以使電荷載流子在較低電壓下更快地通過,從而提高CMOS器件的速度和功效,而不會使柵極長度變得更小。

事情變得更加奇怪,因?yàn)殡娏餍孤﹩栴}需要對CMOS晶體管進(jìn)行結(jié)構(gòu)上的改變。2011年,當(dāng)英特爾轉(zhuǎn)向22納米節(jié)點(diǎn)的FinFETs時(shí),這些器件的柵極長度為26納米,半節(jié)距為40納米,鰭寬為8納米。

IEEE Life Fellow和英特爾資深人士Paolo Gargini表示,該行業(yè)的節(jié)點(diǎn)編號“當(dāng)時(shí)完全沒有意義,因?yàn)樗c你在芯片上找到的任何與你真正從事的相關(guān)尺寸都沒有關(guān)系,”他正在領(lǐng)導(dǎo)一項(xiàng)新的度量工作。

半導(dǎo)體行業(yè)需要更好的東西,這是一個(gè)廣泛的共識,盡管不是普遍的共識。一種解決方法是簡單地將命名法與對晶體管重要的實(shí)際特征的尺寸重新對齊。這并不意味著回到柵極長度,這不再是最重要的特征。取而代之的是,建議使用兩種方法來衡量制造邏輯晶體管所需面積的實(shí)際限制。一種稱為接觸柵極間距,這個(gè)短語指的是從一個(gè)晶體管的柵極到另一個(gè)晶體管的柵極的最小距離。另一個(gè)重要指標(biāo)是金屬間距,它衡量兩個(gè)水平互連之間的最小距離。(不再有任何理由將金屬間距一分為二,因?yàn)闁艠O長度現(xiàn)在不太相關(guān)。)

Arm首席研究工程師Brian Cline解釋說,這兩個(gè)值是在新流程節(jié)點(diǎn)中創(chuàng)建邏輯的“最小公分母”。這兩個(gè)值的乘積是晶體管最小可能面積的一個(gè)很好的估計(jì)。每一個(gè)其他的設(shè)計(jì)步驟——形成邏輯或SRAM單元、電路塊——都會增加這個(gè)最小值。“一個(gè)具有優(yōu)良物理設(shè)計(jì)參數(shù)的邏輯工藝將使這個(gè)值的退化最小化”。

Gargini是IEEE國際設(shè)備和系統(tǒng)路線圖(IRDS)的主席提出,該行業(yè)通過采用三個(gè)數(shù)字的度量標(biāo)準(zhǔn)來“回歸現(xiàn)實(shí)”,這三個(gè)數(shù)字結(jié)合了接觸柵極間距(G)、金屬間距(M)以及對未來芯片至關(guān)重要的片上器件的層數(shù)(T)。

“你只需要知道這三個(gè)參數(shù)就可以評估晶體管密度,”ITRS的負(fù)責(zé)人Gargini說。

IRDS的路線圖顯示,5納米芯片具有48納米的接觸柵極間距,36納米的金屬間距,以及單層——制造公制G48M36T1。它并不完全是脫口而出,但它傳達(dá)了比“5納米節(jié)點(diǎn)”更多的有用信息。

與節(jié)點(diǎn)命名法一樣,這種GMT度量的柵極間距和金屬間距值將在十年內(nèi)不斷減小。然而,按照目前的進(jìn)展速度,它們將越來越慢,大約10年后達(dá)到終點(diǎn)。到那時(shí),金屬間距將接近極紫外光刻所能解決的極限。雖然上一代光刻機(jī)成功地以低成本高效率突破了193納米波長的感知極限,但沒人認(rèn)為同樣的事情會發(fā)生在極紫外光上。

“大約在2029年,我們將達(dá)到光刻技術(shù)的極限,”Gargini說。之后,前進(jìn)的方向是堆疊....這是我們增加密度的唯一方法。

這時(shí),層數(shù)(T)項(xiàng)將開始變得重要。今天先進(jìn)的硅CMOS是單層晶體管,通過十幾層金屬互連連接成電路。但是如果你能制造兩層晶體管,你可能一下子就能讓器件的密度翻倍。

對于硅CMOS來說,目前還在實(shí)驗(yàn)室中,但應(yīng)該不會太久。十多年來,工業(yè)研究人員一直在探索生產(chǎn)“單片3D集成電路”的方法,這種芯片上的晶體管層層疊加。這并不容易,因?yàn)楣杓庸囟韧ǔ:芨,以至于建造一層會損壞另一層。盡管如此,一些工業(yè)研究機(jī)構(gòu)(特別是比利時(shí)納米技術(shù)研究公司Imec、法國CEA-Leti和英特爾)正在開發(fā)技術(shù),在CMOS邏輯中構(gòu)建兩種類型的晶體管——NMOS和PMOS——一種在另一種之上。

即將到來的非硅技術(shù)可能會更快實(shí)現(xiàn)3D。例如,麻省理工學(xué)院教授Max Shulaker和他的同事已經(jīng)參與了依賴多層碳納米管晶體管的3D芯片的開發(fā)。因?yàn)槟憧梢栽谙鄬^低的溫度下加工這些器件,所以你可以比硅器件更容易地將它們組裝成多層。

其他人則在研究邏輯或記憶器件,這些器件可以內(nèi)置在矽上方的金屬互連層中。這些包括微機(jī)械繼電器和由原子薄半導(dǎo)體如二硫化鎢制成的晶體管。

大約一年前,一群杰出的學(xué)者聚集在加州大學(xué)伯克利分校,提出了他們自己的衡量標(biāo)準(zhǔn)。

這個(gè)非正式小組包括了半導(dǎo)體研究領(lǐng)域的一些知名人士。出席2019年6月會議的是所有三名獲得FinFET榮譽(yù)的伯克利工程師:胡正明、蘇宰·劉金標(biāo)和杰弗里·博科。Bokor是該大學(xué)電氣工程的主席。胡是世界上最大的半導(dǎo)體代工廠臺積電的前首席技術(shù)官,他今年獲得了IEEE榮譽(yù)勛章。劉是工程學(xué)院的院長,也是英特爾公司的董事會成員。來自伯克利的還有Sayeef Salahuddin,鐵電設(shè)備開發(fā)的先驅(qū)。

在斯坦福大學(xué),有TSMC大學(xué)教授兼企業(yè)研究副總裁H.-S. Philip Wong,發(fā)明了關(guān)鍵的自測技術(shù)并與Wong共同開發(fā)了第一臺基于碳納米管的計(jì)算機(jī)的Subhasish Mitra,以及英特爾前董事會成員、斯坦福大學(xué)任職時(shí)間最長的工程學(xué)院院長James D. Plummer。TSMC研究人員Kerem Akarvardar和麻省理工學(xué)院的Dimitri Antonidis隨后加入。

他們都覺得自己的專業(yè)對頂尖學(xué)生越來越?jīng)]有吸引力,尤其是美國學(xué)生,劉說。這種信念背后的邏輯似乎很簡單:如果你看到一個(gè)領(lǐng)域在10年后不太可能取得進(jìn)步,你為什么要花4到6年的時(shí)間來訓(xùn)練它呢?她說,當(dāng)“我們實(shí)際上需要越來越多的創(chuàng)新解決方案來繼續(xù)推進(jìn)計(jì)算技術(shù)”時(shí),這種對優(yōu)等生缺乏吸引力的感覺就來了。

這個(gè)專家組合尋找一個(gè)度量標(biāo)準(zhǔn),將消除盛傳的節(jié)點(diǎn)末日時(shí)鐘。至關(guān)重要的是,他們決定,這個(gè)指標(biāo)不應(yīng)該有自然的終點(diǎn)。換句話說,數(shù)字應(yīng)該隨著進(jìn)步而上升,而不是下降。它還必須簡單、準(zhǔn)確,并且與改進(jìn)半導(dǎo)體技術(shù)的主要目的——更強(qiáng)大的計(jì)算系統(tǒng)——相關(guān)。

為此,他們想要的不僅僅是描述制造處理器的技術(shù),就像IRDS的GMT標(biāo)準(zhǔn)那樣。他們想要一個(gè)不僅考慮處理器,還考慮整個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的其他關(guān)鍵性能影響因素的指標(biāo)。這可能看起來過于雄心勃勃,也許確實(shí)如此,但它符合計(jì)算開始走的方向。

打開英特爾Stratix 10現(xiàn)場可編程門陣列的包裝,您會發(fā)現(xiàn)它不僅僅是一個(gè)FPGA處理器。在封裝內(nèi)部,處理器芯片被一系列“小芯片”包圍,其中包括兩個(gè)高帶寬DRAM芯片。一小片蝕刻有密集互連陣列的硅將處理器與存儲器連接起來。

從最基本的角度來說,計(jì)算機(jī)就是這樣:邏輯、內(nèi)存以及它們之間的連接。因此,為了提出新的度量標(biāo)準(zhǔn),Wong和他的同事們選擇了這些成分的密度作為參數(shù),稱它們?yōu)镈L、DM和DC。結(jié)合下標(biāo),他們稱他們的想法為LMC度量。

總的來說,DL、DM和DC方面的改進(jìn)是對計(jì)算系統(tǒng)整體速度和能效的主要貢獻(xiàn),尤其是在當(dāng)今以數(shù)據(jù)為中心的計(jì)算時(shí)代,LMC指標(biāo)的發(fā)起人如是說。他們繪制了歷史數(shù)據(jù),顯示了邏輯、記憶和連接性增長之間的相關(guān)性,表明DL、DM和DC的平衡增長已經(jīng)持續(xù)了幾十年。他們認(rèn)為,這種平衡隱含在計(jì)算機(jī)體系結(jié)構(gòu)中——而且,引人注目的是,它適用于各種復(fù)雜程度的計(jì)算系統(tǒng),從移動和桌面處理器一直到世界上最快的超級計(jì)算機(jī)。Wong說,這種平衡的增長表明未來需要類似的改進(jìn)。


LMC方法


節(jié)點(diǎn)指標(biāo)的另一種替代方法稱為LMC,它通過陳述邏輯密度(DL)、主存密度(DM)和連接它們的互連密度(DC)來捕捉技術(shù)的價(jià)值。

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來源:H.-S. Philip Wong等人,“半導(dǎo)體技術(shù)的密度度量”,IEEE會議錄,2020年4月

在LMC度量中,DL是邏輯晶體管的密度,單位為每平方毫米的器件數(shù)量。DM是每平方毫米內(nèi)存單元中系統(tǒng)主內(nèi)存的密度。DC是邏輯和主存儲器之間的連接,以每平方毫米的互連為單位。如果有多層設(shè)備或3D芯片堆疊,則平方毫米以上的整個(gè)體積都算在內(nèi)。

DL可能是三者中歷史上最熟悉的,因?yàn)閺牡谝粋(gè)IC開始,人們就一直在計(jì)算一個(gè)芯片上的晶體管數(shù)量。雖然聽起來很簡單,但事實(shí)并非如此。處理器上不同類型的電路在密度上有所不同,這主要是因?yàn)檫B接這些設(shè)備的互連。邏輯芯片中最密集的部分通常是SRAM存儲器,它構(gòu)成了處理器的高速緩存,數(shù)據(jù)存儲在其中,以便快速、重復(fù)地訪問。這些緩存是由六個(gè)晶體管單元組成的大型陣列,可以緊密地組裝在一起,部分原因是它們的規(guī)則性。以此衡量,迄今為止報(bào)道的DL最高值是使用TSMC 5納米工藝制造的135兆位SRAM陣列,相當(dāng)于每平方毫米2.86億個(gè)晶體管。在提議的命名法中,應(yīng)該寫成2.86億。

但是邏輯塊比嵌入其中的SRAM更復(fù)雜、更不一致、更不密集。因此,僅憑SRAM來評判一項(xiàng)技術(shù)可能并不公平。2017年,時(shí)任英特爾高級研究員馬克·波爾(Mark Bohr)倡導(dǎo)了一個(gè)使用一些常見邏輯單元加權(quán)密度的公式。該公式著眼于簡單且普遍存在的雙輸入、四晶體管與非門以及常見但更復(fù)雜的掃描觸發(fā)器電路的單位面積晶體管數(shù)。它根據(jù)典型設(shè)計(jì)中這種小柵極和大單元的比例來加權(quán),以產(chǎn)生每平方毫米一個(gè)晶體管的結(jié)果。波爾當(dāng)時(shí)說,SRAM的密度差異太大,應(yīng)該單獨(dú)測量。

據(jù)AMD高級研究員Kevin Gillespie說,在內(nèi)部,AMD使用了類似的東西。他說,如果一個(gè)指標(biāo)沒有考慮設(shè)備的連接方式,它就不會準(zhǔn)確。

另一種可能性,由幾位專家分別提出,是測量一些公認(rèn)的大塊半導(dǎo)體知識產(chǎn)權(quán)的平均密度,如Arm廣泛提供的處理器設(shè)計(jì)之一。

事實(shí)上,根據(jù)Arm的Cline的說法,Arm放棄了在單一指標(biāo)上的嘗試,而傾向于從完整的處理器設(shè)計(jì)中提取電路功能塊的密度。他表示:“我認(rèn)為,不存在適用于所有硬件應(yīng)用的通用邏輯密度標(biāo)準(zhǔn)”,因?yàn)椴煌愋偷男酒拖到y(tǒng)差異太大。他指出,不同類型的處理器——CPU、GPU、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理器、數(shù)字信號處理器——具有不同的邏輯和SRAM比率。

最終,LMC的發(fā)起人選擇不指定一種特定的測量DL的方法,把它留給業(yè)界討論。

測量DM更簡單一點(diǎn)。目前,主存儲器通常指DRAM,因?yàn)樗鼉r(jià)格便宜,耐用性高,讀寫速度相對較快。

DRAM單元由單個(gè)晶體管組成,該晶體管控制對將位存儲為電荷的電容器的訪問。因?yàn)殡姾蓵S時(shí)間泄漏,所以單元必須定期刷新。如今,電容器建在硅上的互連層中,所以密度不僅受晶體管尺寸的影響,還受互連的幾何形狀的影響。LMC小組在出版文獻(xiàn)中能找到的最高DM值來自三星。2018年,該公司詳細(xì)介紹了每平方毫米(200m)2億個(gè)單元的DRAM技術(shù)。

DRAM可能不總是保持其作為主存儲器的地位。磁阻RAM、鐵電RAM、電阻式RAM和相變RAM等替代性存儲器技術(shù)目前已投入商業(yè)生產(chǎn),有些是嵌入處理器本身的存儲器,有些是獨(dú)立的芯片。

在主存和邏輯之間提供足夠的連接已經(jīng)是當(dāng)今計(jì)算系統(tǒng)的一個(gè)主要瓶頸。DC測量的處理器和內(nèi)存之間的互連,歷史上一直是由封裝級技術(shù)而不是芯片制造技術(shù)創(chuàng)造的。與邏輯密度和存儲器密度相比,DC在過去幾十年中的進(jìn)步要慢得多。相反,隨著新包裝技術(shù)的引入和完善,出現(xiàn)了不連續(xù)的跳躍。過去十年特別多事,單芯片系統(tǒng)(SOC)已經(jīng)開始讓位于在硅插入物上緊密結(jié)合在一起的小芯片集合(所謂的2.5-D系統(tǒng))或以3D排列堆疊。使用TSMC集成芯片系統(tǒng)3D芯片堆疊技術(shù)的系統(tǒng)具有最高的公開DC,每平方毫米12,000個(gè)互連(12K)。

然而,DC不需要將邏輯連接到單獨(dú)的存儲器芯片。對于某些系統(tǒng),主存儲器是完全嵌入式的。例如,Cerebras Systems的機(jī)器學(xué)習(xí)大芯片完全依賴于SRAM,該SRAM嵌入在一塊巨大的硅片上,與邏輯內(nèi)核相鄰。

LMC的發(fā)起人建議將所有三個(gè)參數(shù)(DL、DM和DC)的最佳組合描述為[260M、200M、12K]。

英特爾首席技術(shù)官邁克爾·梅伯里認(rèn)為,用一個(gè)數(shù)字來描述一個(gè)半導(dǎo)體節(jié)點(diǎn)有多先進(jìn)的時(shí)代已經(jīng)一去不復(fù)返了。然而,原則上,他確實(shí)喜歡擁有一個(gè)全面的系統(tǒng)級指標(biāo)的想法。他說:“挑選一些達(dá)成一致的東西,即使不完美,也比當(dāng)前的節(jié)點(diǎn)品牌更有用!

他希望看到LMC擴(kuò)展到一個(gè)額外的細(xì)節(jié)層次,以指定正在測量什么以及如何測量。例如,關(guān)于DM值,Mayberry說,它可能特別需要與所服務(wù)的處理器處于同一封裝內(nèi)的存儲器相對應(yīng)。他補(bǔ)充說,被歸類為“主內(nèi)存”的內(nèi)容可能也需要微調(diào)。將來,在處理器和數(shù)據(jù)存儲設(shè)備之間可能會有多層存儲器。例如,英特爾和Micron制造3D XPoint內(nèi)存,這是一種介于DRAM和存儲之間的非易失性系統(tǒng)。

更進(jìn)一步的批評是,像LMC這樣基于密度的指標(biāo)和像GMT這樣基于光刻的指標(biāo)都與代工廠和存儲芯片制造商的客戶想要的相差甚遠(yuǎn)。AMD的Gillespie說:“有面積[密度],但也有性能、功率和成本。每種芯片設(shè)計(jì)都圍繞這四個(gè)軸進(jìn)行權(quán)衡,以至于“沒有一個(gè)單一的數(shù)字可以衡量一個(gè)節(jié)點(diǎn)有多好,”Mayberry補(bǔ)充道。

世界第三大DRAM制造商美光科技公司的高級研究員兼副總裁古爾特杰·辛格·桑德胡說:“內(nèi)存和存儲最重要的指標(biāo)仍然是每比特的成本。其他幾個(gè)因素,包括基于特定市場應(yīng)用的各種性能指標(biāo),也受到密切關(guān)注。”

還有一派人認(rèn)為,在這一點(diǎn)上甚至不需要一個(gè)新的指標(biāo)。GlobalFoundries負(fù)責(zé)工程和質(zhì)量的高級副總裁格雷格·巴特利特(Gregg Bartlett)表示,這些措施“只有在以縮放為主導(dǎo)的應(yīng)用中才真正有用”,global foundries在2018年結(jié)束了對7納米工藝的追求!斑@一領(lǐng)域只有少數(shù)幾家制造公司,客戶和應(yīng)用數(shù)量也有限,因此它與半導(dǎo)體行業(yè)的絕大多數(shù)業(yè)務(wù)不太相關(guān)!敝挥杏⑻貭、三星和TSMC在追求最后幾個(gè)CMOS邏輯節(jié)點(diǎn),但它們幾乎不是小角色,創(chuàng)造了全球半導(dǎo)體制造收入的很大一部分。

巴特利特的公司不屬于這一群體,他認(rèn)為CMOS邏輯與專門技術(shù)的集成,如嵌入式非易失性存儲器和毫米波無線電,對該行業(yè)的未來來說,比規(guī)模更重要。

但毫無疑問,持續(xù)擴(kuò)大規(guī)模對許多半導(dǎo)體消費(fèi)者來說非常重要。LMC指標(biāo)和格林威治標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間指標(biāo)的發(fā)起人都感到了一種緊迫感,盡管出于不同的原因。對于Wong和LMC的支持者來說,在晶體管規(guī)模變得不那么重要的時(shí)代,該行業(yè)需要明確其長期未來,以便他們可以招募技術(shù)人才來實(shí)現(xiàn)這一未來。

對于Gargini和GMT的支持者來說,這是關(guān)于保持行業(yè)在正軌上。在他看來,如果沒有一個(gè)指標(biāo)的同步,這個(gè)行業(yè)的效率就會降低!斑@增加了失敗的可能性,”他說。在硅CMOS完全停止萎縮之前,“我們還有10年”。“這還不足以”產(chǎn)生必要的突破,讓計(jì)算機(jī)繼續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)。

查詢進(jìn)一步信息,請?jiān)L問官方網(wǎng)站http://spectrum.ieee.org/a-better-way-to-measure-progress-in-semiconductors(Donna Zhang,張底剪報(bào))
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