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MCU單片機(jī)系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)：雷擊試驗(yàn)（Surge）
2007/2/10 11:54:51    
從工業(yè)的角度來看，衡量系統(tǒng)穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)有很多，也針對不同的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)不同。其中，雷擊試驗(yàn)（Surge）參考標(biāo)準(zhǔn)為IEC 61000-4-5，本試驗(yàn)為針對試件在操作狀態(tài)下，承受對于開關(guān)或雷擊瞬時(shí)之過電壓/電流產(chǎn)生突波之耐受程度。
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