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靜電放電（ESD）和電磁干擾（EMI）是面臨的主要設計挑戰(zhàn)，特別是涉及易受靜電放電（ESD）損害的現(xiàn)代高速和超高速接口的情況下。然而，在不影響系統(tǒng)性能的情況下，還同時兼顧ESD保護和EMI濾波則使設計變得更加復雜。在充分了解防止快速高壓浪涌或較低極端電壓電平的較長脈沖挑戰(zhàn)之后，設計人員可以從一開始就采用最有效的ESD拓撲結(jié)構。
本ESD應用手冊提供了有關ESD原因、故障癥狀以及確保設計獲得充分保護的必要步驟等重要信息，甚至考慮了最靈敏接口的情形。它借鑒了Nexperia在該技術領域的廣泛知識經(jīng)驗，包括我們在測試設計和故障分析方面所做的工作。
指南還介紹了科學的ESD保護器件選擇過程，解決了耗時且不一定能找到最佳解決方案的試錯測試問題。ESD設計工程師指南目錄如下：
- ESD保護器件的數(shù)據(jù)手冊參數(shù)；
- ESD測試標準和TLP測試；
- ESD保護原理；
- SEED（高效的系統(tǒng)級ESD設計）；
- 利用共模濾波器實現(xiàn)EMI濾波；
- 因ESD和浪涌事件造成的故障癥狀；
- 接口和應用。
ESD設計工程師指南提供紙質(zhì)版，更好地了解ESD保護拓撲結(jié)構和故障癥狀，以及現(xiàn)代接口的測試和仿真。
下載NexperiaESD設計工程師指南，請訪問官方網(wǎng)站 http://efficiencywins.nexperia.cn/efficient-products/the-power-mosfet-design-engineers-guide.html。（Lisa WU, 365PR Newswire）
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