【產(chǎn)通社，12月4日訊】深圳市大為創(chuàng)新科技股份有限公司（Shenzhen Dawei Innovation Technology Company Limited；股票代碼：002213）消息，其近日收到國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的1項《商標注冊證書》，公司控股子公司深圳市芯匯群微電子技術(shù)有限公司（以下簡稱“芯匯群”）收到國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的1項《發(fā)明專利證書》、7項《實用新型專利證書》、1項《外觀設(shè)計專利證書》，具體情況如下：

發(fā)明專利《一種基于ART神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的晶圓缺陷檢測方法》發(fā)明人連浩臻、劉政宏、劉洪榮、閔剛、梁海波，專利號ZL202011462376.6，專利申請日2020年12月9日，授權(quán)公告日2021年11月30日。本發(fā)明公開一種基于ART神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的晶圓缺陷檢測方法，該基于ART神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的晶圓缺陷檢測方法，包括以下步驟：獲取基于ART神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的缺陷檢測模型并保存；獲取掃描電鏡采集的晶圓圖像，并輸入至所述缺陷檢測模型；利用所述缺陷檢測模型檢測所述晶圓圖像的缺陷及缺陷類型。該方法采用計算機視覺方式，通過基于ART神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的缺陷檢測模型來檢測晶圓缺陷，可以提高檢測效率，有利于及時分析影響芯片良率的因素。

用新型專利證書《一種可分類存儲的IC分裝設(shè)備》發(fā)明人賀義、梁海波、閔剛、劉洪榮，專利號ZL202022637197.3，專利申請日2020年11月16日，授權(quán)公告日2021年10月8日。

實用新型名稱《一種具有分類抽拉存儲功能的電子元器件儲存箱》發(fā)明人劉長春、張進國、李小明、劉洪榮，專利號ZL202022830900.2，專利申請日2020年12月1日，授權(quán)公告日2021年10月8日。

實用新型名稱《一種端口帶獨立供電模塊的硬盤測試板》發(fā)明人梁海波，專利號ZL 202023200489.7，專利申請日2020年12月24日，授權(quán)公告日2021年7月20日。

實用新型名稱《一種供電電壓可變的硬盤測試板》發(fā)明人劉洪榮，專利號ZL202023172047.6，專利申請日2020年12月24日，授權(quán)公告日2021年10月8日。

實用新型名稱《一種電子元器件存儲器插槽夾具》發(fā)明人張進國、劉洪榮、閔剛、梁海波，專利號ZL202120404380.0，專利申請日2021年2月24日，授權(quán)公告日2021年10月8日。

實用新型名稱《一種電子元器件存儲器的器件結(jié)構(gòu)》發(fā)明人張進國、閔剛、梁海波、劉洪榮、劉政宏，專利號ZL202120435716.X，專利申請日2021年3月1日，授權(quán)公告日2021年10月8日。

實用新型名稱《一種數(shù)據(jù)儲存器的連接頭》發(fā)明人劉政宏、梁海波、劉洪榮、閔剛，專利號ZL202120444166.8，專利申請日2021年3月2日，授權(quán)公告日2021年10月8日。

外觀設(shè)計專利證書《測試板（SXmicroSTM1A-V1)》設(shè)計人賀義，專利號ZL202030642287.4，專利申請日2020年10月27日，授權(quán)公告日：2021年5月7日。

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